テクニカルサポート
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Low Frequency RFID Tag Characterization - Application Note
This application note introduces how to measure the resonance frequency of an RFID tag with the Agilent N9322C basic spectrum analyzer (BSA) easily.
アプリケーション・ノート 2013-05-16 |
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3.59 MB
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GNSS Technologies and Receiver Testing - Application Note
This application note provides information on GNSS technologies including GPS, Compass, Beidou, Galileo, and Glonass, along with the related receiver test challenges and solutions.
アプリケーション・ノート 2013-05-08 |
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3.63 MB
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Using Microwave Switches When Testing High Speed Serial Digital Interfaces - Application Note
Many high speed digital interfaces use multiple lanes to achieve their system's throughput requirements. Most issues associated with this can be resolved with a switching network.
アプリケーション・ノート 2013-05-07 |
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2.90 MB
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Visual Basic 2010 Express Editionによる測定器制御プログラム入門 VISA COM ライブラリ編
Visual Basic 2010 Express EditionからVISA COM ライブラリを呼び出し、測定器に *IDN? コマンドを送り、応答を受け取る方法を説明しています。
アプリケーション・ノート 2013-05-07 |
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919 KB
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Visual C# 2010 Express Edition による測定器制御プログラム入門 VISA COM ライブラリ編
Visual C# 2010 Express EditionからVISA COM ライブラリを呼び出し、測定器に *IDN? コマンドを送り、応答を受け取る方法を説明しています。
アプリケーション・ノート 2013-05-07 |
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974 KB
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Excel 2010 / VBA による測定器制御プログラム入門 VISA COM ライブラリ編
Excel 2010 / VBA からVISA COM ライブラリを呼び出し、測定器に *IDN? コマンドを送り、応答を受け取る方法を説明しています。
アプリケーション・ノート 2013-05-07 |
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EM Insights Series
The EM Insights series is a collection of EM applications from Agilent EEsof EDA.
アプリケーション・ノート 2013-05-06 |
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Radar Test Measurements - Application Note
This application note focuses on the fundamentals of measuring basic pulsed radars and measurements for more complex or modulated pulsed radar systems.
アプリケーション・ノート 2013-04-30 |
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4.68 MB
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Radar, EW & ELINT Testing: Identifying Common Test Challenges - Application Note
This application note reviews some of the latest test equipment for radar, EW & ELINT systems. Since this is a complex subject, we begin with a brief review of the fundamental radar and EW/ELINT challenges.
アプリケーション・ノート 2013-04-29 |
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RF/マイクロ波用USB同軸スイッチ電子計測アプリケーション
このアプリケーション・ノートでは、USB同軸スイッチの特長とアプリケーション例について説明します。複数の被試験デバイス（DUT）の測定や、数回の作業を1回の接続で行うさまざまな方法について説明しています。
アプリケーション・ノート 2013-04-25 |
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Agilent N77xx シリーズ簡易取り扱い説明書
本資料はN77xx シリーズ測定器とPC とをUSB ケーブルで接続し、N77xx Viewer ソフトウェアを利用して制御する方法についてまとめた資料です。測定器の初期セットアップや、動作点検時にご利用頂けます。
アプリケーション・ノート 2013-04-24 |
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Method of Implementation (MOI) for HDMI 1.4b Cable Assembly Test
Method of Implementation (MOI) for HDMI 1.4b Cable Assembly Test Using Agilent E5071C ENA Network Analyzer Option TDR.
アプリケーション・ノート 2013-04-24 |
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2.02 MB
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8753からENAネットワーク・アナライザにアップグレードする7つの理由
このアプリケーション・ノートでは、8753ユーザがENAシリーズを使用することにより、ネットワーク測定環境が向上することをE5071C/E5072Aに焦点を当てて解説します。
アプリケーション・ノート 2013-04-22 |
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Increasing Manufacturing Throughput of Automotive Controllers - Application Note
This application note describes how automotive manufacturers can boost throughput using the Agilent TS-5400 Series 3 high performance PXI function test system for multiple devices under test.
アプリケーション・ノート 2013-04-18 |
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Overvoltage Protection in Power Supplies - Application Note
This application brief describes over-voltage protection as a useful feature to protect your DUTs in some commonly used applications
アプリケーション・ノート 2013-04-18 |
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How to Read Your DC Power Supply's Data Sheet - Application Note
Understanding how to sort through key power supply specifications in a data sheet can simplify product selection.
アプリケーション・ノート 2013-04-16 |
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M9392A PXIベクトル・シグナル・アナライザによるマルチチャネル ストリーミング・キャプチャ記録
テストの限界に挑むアジレントのモジュール計測器
アプリケーション・ノート 2013-04-16 |
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Achieve Accurate Two Wire Resistance Measurements with the Agilent 34923A and 34924A Multiplexers -
This application note provides an overview of how to make an accurate two-wire resistance measurement with the Agilent 34980A and a multiplexer.
アプリケーション・ノート 2013-04-16 |
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USB3.0 (SuperSpeed USB)の概要と評価、測定 - 5
USB3.0 SuperSpeed Channel S-parameter Tables の見方について
アプリケーション・ノート 2013-04-14 |
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M9381A PXIe ベクトル信号発生器によるパワーアンプ・テストのスループット向上
テストの限界に挑むアジレントのモジュール計測器
アプリケーション・ノート 2013-04-12 |
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Noise Figure Measurement Accuracy - The Y-Factor Method - Application Note
Noise figure is a key performance parameter in many RF systems. This application note covers many topics related to noise figure measurements including the Y-factor method.
アプリケーション・ノート 2013-04-12 |
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1.36 MB
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Radar Distance Test to Airborne Planes - Application Note
Agilent pulse pattern generators are used for testing military radar communication systems, and as demonstrated in this publication, the aviation industry.
アプリケーション・ノート 2013-04-11 |
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PXI and AXIe Modular Instrumentation, Tested Computer List - Technical Note
This personal computer and controller selection guide has been prepared to provide the system designer with a list of tested computers that are compatible with Agilent's PXI and AXIe chassis
アプリケーション・ノート 2013-04-08 |
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736 KB
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Tensile Testing of Fibers using Agilent T150 UTM Quasi-static Tensile Test
The Agilent T150 UTM is a specifically designed instrument to measure the tensile properties of wide range of fibers with small cross-sectional diameters. this application note discussed testing of various fibers
アプリケーション・ノート 2013-04-08 |
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188 KB
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Multichannel Measurements in MIMO 802.11ac Baseband IQ Simulation, Design and Test - Application Not
This solution brief will show Agilent Technologies' complete, end-to-end solution for multichannel measurements of 802.11ac BBIQ simulation, design and test.
アプリケーション・ノート 2013-04-05 |
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748 KB
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