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N8480シリーズパワーセンサ買い替え支援キャンペーン
プロモーション#5.957。2014年9月26日まで。

プロモーション資料 2014-09-26

Modular Functional Test – Circuit Check
Modular Functional Test Solutions from Circuit Check and Agilent

ソリューション概要 2014-04-16

TR Module (Transmit Receive Module) Testing – COM DEV
TR Module (Transmit Receive Module) Test Solution from COM DEV and Agilent.

ソリューション概要 2014-04-16

Agilent Device Analyzer/Curve Tracer
Agilent Device Analyzer/Curve Tracer

デモ 2014-04-16

Low Cost Antenna Test – Eretec Inc.
Low Cost Antenna Test Solution from Eretec and Agilent

ソリューション概要 2014-04-16

Real-Time Printed Circuit Board EMC Measurement - EMSCAN
Real-Time Printed Circuit Board Electromagnetic Compatibility Measurement from EMSCAN and Agilent

ソリューション概要 2014-04-16

NIST Accredited Calibration of Power Sensors – Cal Lab
NIST Accredited Calibration of Power Sensors, Attenuators and Power Splitters from Cal Lab and Agilent.

ソリューション概要 2014-04-16

On-Wafer Test of Power Devices – Cascade Microtech
On-Wafer Test Solution for Power Semiconductor Devices from Cascade Microtech and Agilent

ソリューション概要 2014-04-16

Real-Time Near-Field Measurement of Antenna Characteristics - EMSCAN
Real-Time Near-Field Measurement of Antenna Characteristics from EMSCAN and Agilent

ソリューション概要 2014-04-16

EMC Test for R&D – Eretec Inc.
EMC Test Solution for R&D from Eretec and Agilent

ソリューション概要 2014-04-16

On-Wafer High Power Load Pull Measurements – bsw TestSystems
On-Wafer High Power Load Pull Measurement Solution from bsw TestSystems and Agilent

ソリューション概要 2014-04-16

NYU Wireless e-Pulse Newsletter
NYU WIRELESS researchers have been invited to publish recent RF propagation results on 5G millimeter wave cellular communications in New York City.

雑誌記事 2014-04-16

N5172B/82B MXG Signal Generators Option 660 Upgrade Kit Installation note
This note provides the necessary installation instructions for updating an MXG in the field with the Real Time BBG Option 660 assembly.

インストール・マニュアル 2014-04-16

PDF PDF 2.76 MB
RF Emissions Testing – EMSEC Solutions Inc. (ESI)
RF Emissions Testing Solution from ESI and Agilent.

ソリューション概要 2014-04-16

Real-Time Near-Field Cell Phone Antenna Measurements - EMSCAN
Real-Time Near-Field Cell Phone Antenna Measurements from EMSCAN and Agilent

ソリューション概要 2014-04-16

Agilent SystemVueによるFPGAのプロトタイプ作成
このアプリケーション・ノートでは、Agilent SystemVueソフトウェアと、これに統合できるサードパーティ製アプリケーションを使用して、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)のプロトタイプを作成するデザイン・フローの概要をご紹介します。

アプリケーション・ノート 2014-04-15

BenchVueソフトウェアの対応測定器
BenchVueソフトウェアは、プログラミングなしで複数の測定器の測定結果表示機能とPC/モバイル機器からのデータ収集機能を提供します。

リリース・ノート 2014-04-15

Optical Modulation Analyzer New Analysis Software Demo - Video
This video gives you a brief overview of the key new features like smart setup and new measurements. In addition it describes briefly how to setup various hardware configurations.

デモ 2014-04-15

METIS 2020
Welcome to the EU project METIS which stands for Mobile and wireless communications Enablers for the Twenty-twenty Information Society. The main objective of the project is lay the foundation of 5G, the next generation mobile and wireless communications system.

ニュースレター 2014-04-14

89600 VSA and 89600 WLA Software Revision History
Software version 17.22 (April 2014)

リリース・ノート 2014-04-14

PDF PDF 141 KB
5G-Rethinking Wireless Infrastructure Interactive IWPC Workshop
With fourth generation LTE (4G) now beginning to be deployed widely around the world, Fifth generation (5G) mobile and wireless communication technologies are emerging into research fields.

雑誌記事 2014-04-14

M9076A 1xEV-DO X-Series Measurement Application for M9391A PXIe Vector Signal Analyzer
This document provides technical and other information related to the 1xEV-DO X-Series measurement application for modular instruments

技術概要 2014-04-14

PDF PDF 4.39 MB
M9079A TD-SCDMA - Technical Overview
This document provides technical and other information related to the TD-SCDMA X-Series measurement application for modular instruments.

技術概要 2014-04-14

PDF PDF 4.93 MB
34923A/34924A マルチプレクサを使用した正確な2端子抵抗測定
このアプリケーション・ノートでは、34980Aデータ収集ユニットで34923A/34924Aリード・リレー・マルチプレクサを使用した2端子抵抗測定におけるチャネル経路の抵抗を最小化し、確度を改善する方法を紹介します。

アプリケーション・ノート 2014-04-14

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ブローシャ 2014-04-14

PDF PDF 1.05 MB

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