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Agilent LCRメータおよびインピーダンス・アナライザを用いた誘電率/透磁率の測定ソリューション
LCRメータおよびインピーダンス・アナライザを用いた誘電率/透磁率の測定ソリューション

アプリケーション・ノート 2014-03-17

ライフサイエンス/化学分析分野における電気インピーダンス測定  -細胞/生体/水質/食品/酵素等の分析/測定

アプリケーション・ノート 2012-11-26

E4982A LCR Meter 1 MHz to 3 GHz Migration Guide from 4287A Application Note
This migration guide describes the difference between the Agilent E4982A LCR Meter and 4287A RF LCR Meter.

アプリケーション・ノート 2012-11-21

PDF PDF 1.42 MB
Impedance and Network Analysis Application List Application Note
This document provides the information of unique and new solutions for impedance and network analysis with using Agilent impedance analyzers, LCR meters and ENA series network analyzers.

アプリケーション・ノート 2012-10-30

PDF PDF 1.11 MB
スキャナ・システムによる大量部品の効率的なインピーダンス測定 AN1369-4
本アプリケーション・ノートでは、LF帯のLCRメータおよびインピーダンス・アナライザとスキャ ナを使用したスキャナ・システムの設計方法や、システム内の残留誤差の問題を解決する 方法について説明します。

アプリケーション・ノート 2009-05-19

IC-CAP半導体モデリング/特性評価 高速測定・解析システム

アプリケーション・ノート 2008-06-19

量産におけるMEMS のオンウェーハ評価
本書では、総生産コストの削減に向けた、オンウェーハ・ステージでのMEMS 素子の評価方法について説明しています。

アプリケーション・ノート 2008-05-16

Contact Resistance and Insulation Resistance Measurements of Electromechanical Components (AN1305-1)
This application note describes the contact resistance and insulation resistance measurement of mechanical components.

アプリケーション・ノート 2008-04-03

PDF PDF 119 KB
E4980AプレシジョンLCRメータを使用した、電磁駆動MEMS光スキャナの特性評価
このアプリケーション・ノートでは、Agilent E4980Aによる電磁駆動MEMS光スキャナのテスト効率の大幅な向上について、簡単に説明します。

アプリケーション・ノート 2007-07-04

日本語タイトル:E4980AプレシジョンLCRメータによる、MEMS静電アクチュエータのテスト効率の向上
このアプリケーション・ノートでは、Agilent E4980AによるMEMS静電アクチュエータのテスト効率の大幅な向上について、簡単に説明します。

アプリケーション・ノート 2007-07-04

E4980AプレシジョンLCRメータを使用した、電磁駆動MEMS光スイッチ・アクチュエータの特性評価
このアプリケーション・ノートでは、Agilent E4980Aによる電磁駆動MEMS光スイッチ・アクチュエータのテスト効率の向上について、簡単に説明します。

アプリケーション・ノート 2007-07-04

E4980AプレシジョンLCRメータを使用した、MEMS静電容量センサのテスト効率の向上
このアプリケーション・ノートでは、Agilent E4980Aの機能、およびE4980AによるMEMS静電容量センサのテスト効率の大幅な向上の実現について、簡単に説明します。

アプリケーション・ノート 2007-07-02

MEMSデバイス測定ソリューション
Agilent Technologiesは、MEMSデバイスの開発支援ツールとしてさまざまな計測機器を提供しています。

アプリケーション・ノート 2006-11-01

インピーダンス測定ハンドブック 2003年11月版
本ハンドブックでは、インピーダンス測定の基本原理から応用例までを詳細に解説し、インピーダンス測定に必要な技術情報を全て網羅しています。

アプリケーション・ノート 2003-10-31

4338B、4339Bを用いた接続部品の接触抵抗、絶縁抵抗測定
本プロダクト・レポートでは、Agilent 4338Bミリオームメータおよび4339Bハイレジスタンスメータを用いた信頼性の高い効率的な接触抵抗測定、絶縁抵抗測定の利点をご紹介します。

アプリケーション・ノート 2003-05-03

PDF PDF 594 KB
4285A 製造・品質管理部門におけるRF コイルの高確度・高速選別AN369-10
このアプリケーション・ノートでは、4285Aを用いることにより、RF コイルの測定・選別段階で大幅なローコスト化、高品質化を実現する方法と、その具体例を紹介します。

アプリケーション・ノート 2003-01-24

広帯域にわたる直流電流重畳インダクタンス測定 AN369-8
高周波に対応した低損失インダクタの開発・生産においては、実際の動作条件に近いインダクタンスの特性を評価する為に、直流電流重畳インダクタンス測定が不可欠です。本アプリケーション・ノートでは、高周波スイッチング電源用インダクタの、広帯域にわたる正確な直流電流重畳インダクタンス測定についてご紹介します。

アプリケーション・ノート 2003-01-24

スキャナを用いた効率的なマルチタップトランス測定 AN1224-5
スキャナとAgilent 4263B LCRメータを用いた効率的なマルチタップ・トランス測定についてご紹介します。

アプリケーション・ノート 2002-06-18

電子機器の品質向上に貢献するLCR部品評価AN 369-9
今日の電子機器製品のめざましい発達に伴い、それらに対する品質や信頼性向上及び低価格化への要求は高まる一方です。このため製品の品質向上やコストダウンが非常に重要になってきています。そして製品の品質向上...

アプリケーション・ノート 2001-07-11

Fundamentals of RF and Microwave Power Measurements (AN 64-1C)
This Application Note is for information only. Agilent no longer sells or supports these products.

アプリケーション・ノート 2001-04-16

PDF PDF 2.21 MB
OPEN/SHORT/LOAD 補正による高確度インピーダンス測定 AN346-3
一般にインピーダンス測定器ではフロントパネルのUNKNOWN端子が測定確度の基準面になっています。アジレント・テクノロジー製インピーダンス測定器の場合はさらにケーブル長補正機能を備えており、アジレント・テク...

アプリケーション・ノート 2000-08-30

PDF PDF 938 KB
外部DC 電流バイアス回路の設計法 AN346-1
コイル、トランスなどのインダクタ部品のインピーダンス特性評価では、そのDC 電流バイアス依存性を把握するために、しばしばDC バイアスを重畳したインダクタンス測定が行われます。アジレント・テクノロジーのL C R...

アプリケーション・ノート 2000-08-30

PDF PDF 293 KB
液晶セルの容量特性測定AN369-7
液晶(Lquid Crystal)は表示素子として多くの製品に応用されており、また現在も盛んに研究が進められています。この様な表示素子に用いられる液晶の物性評価にテスト信号電圧対容量特性測定があります。これは液晶に加え...

アプリケーション・ノート 2000-08-30

半導体のマルチ周波数C - V 測定AN 369-5
一般的にMOS 等の半導体デバイスの製造プロセス評価に必要とされる各種パラメータ酸化膜容量Cox 基板不純物濃度Nsub 等は、C-V 特性をもとに算出されます。このため正確なプロセス評価をするためには、精密なC-V 測定が必...

アプリケーション・ノート 2000-08-30

生産ラインでの試験及びデバイス特性評価における磁気ヘッドのインピーダンス測定 AN 369-12
磁気ヘッドは民生、産業両分野で幅広く用いられ、より一層の市場拡大が期待できます。磁気ヘッドの用途として民生分野ではVTR市場が大きく成長し今後さらにS-VHS、8mmVTR、高品位VTR市場の発展が予想され、また、新しい...

アプリケーション・ノート 2000-08-30

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