전자 테스트 및 측정

• 스코프, 분석기, 미터
  • 오실로스코프
  • 신호 및 스펙트럼 분석기
  • 네트워크 분석기
  • 로직 분석기
  • 프로토콜 분석기 및 엑서사이저
  • EMI/EMC, 위상 노이즈, 물리 계층 테스트
  • 비트 에러율 테스트(BERT) 솔루션
  • 디지털 멀티미터, 볼트미터
  • 파워 미터 및 파워 센서

  • 주파수 카운터 및 타임-To-디지털 컨버터
  • 노이즈 피겨 분석기 및 노이즈 소스
  • LCR 및 저항계
  • 임피던스 분석기
  • 디지타이저
  • DC 전원 분석기
  • 다이내믹 신호 분석기, 기계적 및 물리적 테스트
  • 파라메트릭 및 디바이스 분석기, 커버 트레이서
• 발생기, 소스, 공급기
  • 신호 발생기
  • 펑션 / 임의 파형 발생기
  • 펄스 패턴 발생기
  • 데이터 발생기 및 분석기
  • DC 전원 공급기
  • DC 전원 로드
  • AC 전원 소스/ 전원 분석기
• 소프트웨어
  • EEsof EDA 설계 및 시뮬레이션 소프트웨어
  • 애질런트 VEE
  • 계측기 소프트웨어
  • Calibration & Adjustment Software
  • Agilent IO Libraries Suite 15.5

  • 애질런트 라이센스 매니저 3.3
  • Fault Detective 4.5
  • Instrument Connectivity
  • Test Optimization and Diagnostics
• 기타 테스트 및 측정 제품
  • 데이터 수집 하드웨어 및 시스템 전환
  • 무선 디바이스 테스트 세트 및 무선 솔루션
  • Network Assurance and Test Systems
  • 유선 통신 테스트 제품
  • 자동화 테스트 시스템 - i3070 ICT
  • 어플리케이션별 테스트 시스템 및 부품
  • 파라메트릭 테스트
  • 평면 판넬 디스플레이 테스트

  • 포토닉스 테스트 및 측정
  • Atomic Force Microscopes &Indenters
  • 현미경, 포지셔닝 및 광학
  • 밀리미터웨이브 및 마이크로웨이브 디바이스
  • GPIB, USB, 랙, 액세서리
  • 애질런트 중고 계측기
  • 채널 파트너 및 솔루션 공급업체
• 서비스
  • 수리 및 교정 서비스
  • 어플리케이션 엔지니어링 서비스
  • 보증 상태 조회
  • Infoline

전자

• 항공우주 및 방위산업
  • 레이더 및 EW(Electronic Warfare) 테스트
  • 군통신
  • 위성통신
  • 감시 및 정보
  • 항공전자기술, 유도기술, 네비게이션 및 GPS
  • ATE 어플리케이션
  • 작전능력 시험
• 기초분야
  • 계측기 보안
  • 기초자료
  • 장비 OS 및 소프트웨어
• 부품 및 디바이스
  • Solar Micro Inverter Testing
  • PCB (Printed Circuit Board)
  • 리시버
  • 배터리
  • 재료 측정
  • 증폭기
  • 컴퓨터 및 디스크 드라이브
  • 케이블

  • Device Modeling
  • Filters
  • Mixers, Frequency Converters & Modulators
  • Oscillators
  • 부품 테스트
  • 안테나 측정
  • 태양전지, 솔라 모듈 및 태양 전지판 테스트
• 제어 및 자동화
  • I/O 설계 및 제어
  • 데이터 수집 및 제어
  • 제조 및 생산 테스트
  • 오토모티브
  • 물리적 및 기계적
  • 사용자 고유의 테스트 시스템 구축
• 디지털 및 아날로그 설계
  • IC 테스트
  • 디지털 설계 및 테스트
  • 버스(Bus) 분석
  • 회로 설계 및 테스트
  • Electronic System-Level (ESL) Design

  • FPGA 디버그
  • Phase-Locked Loops
  • 신호 무결성
  • 임베디드 시스템 설계
• RF 및 마이크로웨이브
  • EMI 및 EMC
  • 노이즈 및 노이즈 피겨
  • 벡터 네트워크 측정
  • 송신 및 수신
  • 임피던스
  • 적합성(Compliance)
  • 주파수 및 변조
  • 타임 및 타이밍 분석
  • 파워 측정

  • Signal Monitoring and Geolocation
  • MMIC Design
  • RF & Microwave Board Design
  • RF System-in-Package & RF Module Design
  • RF/마이크로웨이브 프로빙 및 In-픽스쳐 솔루션
  • RFIC Design
  • X-Parameters
  • 펄스 RF 측정
• 교육관련자 코너
  • Advanced Research
  • 아카데믹 및 교육자 코너

전자 테스트 및 측정

• 매뉴얼
• 드라이버 및 소프트웨어
• 어플리케이션 노트
• 사양
• FAQ
• 서비스 노트
• 데모
• 포럼
• 부품

• 사양
• 선택 및 구성 가이드
• 어플리케이션 노트
• 매뉴얼
• 카탈로그

전자 테스트 및 측정

• 스펙트럼 분석 측정 교육
• VEE 실습 세미나(무료)
• 디지털 오실로스코프 운용교육(무료)
• 교육 일정
• 행사 및 세미나 일정
• 국가 선택
  • 한국
  • 中国
  • 日本
  • 台灣
  • Canada (English)
  • Canada (Français)
  • Deutschland
  • España

  • France
  • India
  • Italia
  • Singapore
  • United Kingdom
  • United States
  • 더보기+

전자 테스트 및 측정

• 주문 상태
• 견적 요청
• 구매 방법