Электронные измерения

• Осциллографы, анализаторы, измерители
  • Осциллографы
  • Анализаторы сигналов (анализаторы спектра)
  • Анализаторы цепей
  • Логические анализаторы
  • Анализаторы протоколов
  • ЭМС, Измерения фазовых шумов, тестирование физического уровня
  • Тестеры коэффициента битовых ошибок
  • Цифровые мультиметры, вольтметры

  • Измерители и датчики мощности
  • Частотомеры
  • Анализаторы коэффициента шума и источники шума
  • Приборы для измерения импеданса, иммитанса и сопротивления
  • Дигитайзеры
  • Анализатор источников питания постоянного тока
  • Анализаторы динамических сигналов, измерение параметров физических и механических воздействий
  • Параметрические анализаторы полупроводниковых приборов, характериографы
• Генераторы, источники
  • Генераторы сигналов
  • Генераторы сигналов стандартной/произвольной формы
  • Генераторы импульсов
  • Генераторы и анализаторы тестовых последовательностей

  • Источники питания постоянного тока
  • Источники/измерители
  • Электронные нагрузки
  • Источники питания переменного тока / Анализаторы питания
• Программные продукты
  • Системы автоматизированного проектирования радиоэлектронных устройств Agilent EEsof
  • Agilent VEE
  • Измерительные приложения
  • Программное обеспечение для настройки и проверки оборудования

  • Библиотеки ввода/вывода версии (IO Libraries Suite 16.1)
  • Agilent License Manager
  • Fault Detective 4.7
  • Command Expert
• Системы формата PXI, AXIe, системы сбора данных и модульные системы
  • Модульные приборы и системы стандарта PXI
  • Модульные приборы и системы стандарта AXIe
  • Системы сбора данных
  • Модульные приборы и системы стандартов PCI/PCI Express/CompactPCI/VME
  • Модульные приборы и системы на базе шины USB
  • Модульные приборы и системы стандарта VXI
• Другое контрольно-измерительное оборудование
  • Системы сбора данных
  • Решения для тестирования беспроводных соединений
  • Автоматизированные тестовые системы - i3070 ICT
  • Специализированные измерительные системы
  • Системы параметрического тестирования
  • Системы тестирования плоских ЖК-панелей
  • Фотонные измерения

  • Атомные силовые микроскопы, FE-SEM, наноиндентеры
  • Лазерные интерферометры, оптические системы и калибраторы
  • Monolithic Laser Combiners and Precision Optics
  • Приборы миллиметрового диапазона
  • GPIB, USB, аксессуары, стойки
  • Восстановленное оборудование
• Услуги
  • Услуги калибровки и ремонт приборов
  • Информационная система Infoline
  • Зарегистрировать прибор
  • Проверить состояние гарантии

  • Agilent Solutions Partners
  • Trade-in Solutions
  • Технические консультации
  • Качество обслуживания заказчиков

Электроника

• Оборонная/Аэрокосмическая промышленность
  • Тестирование радаров и средств радиоэлектронной борьбы
  • Военная связь
  • Спутники
  • Системы мониторинга и контроля
  • Авионика, навигация и GPS
  • Автоматизированные тестовые системы
  • Функциональное тестирование
• Базовые измерения
  • Хранение и уничтожение конфиденциальной информации в приборах
  • Операционная среда и программное обеспечение приборов
  • Основы измерений
• Компоненты и устройства специального назначения
  • Тестирование топливных элементов
  • Тестирование инверторов, применяемых в солнечных батареях
  • Тестирование солнечных батарей, модулей и блоков
  • Аккумуляторы
  • Печатные платы
  • Усилители

  • Гетеродины, ГУНы, ФАПЧ
  • Моделирование устройств
  • Смесители, преобразователи частоты и модуляторы
  • Тестирование параметров антенн
  • Фильтры
• Удаленное управление и автоматизация
  • Тестирование на производстве
  • Build Your Own Test System
  • Стандарт LXI
• Разработка аналоговых и цифровых устройств
  • Тестирование высокоскоростных цифровых устройств
  • DDR Memory Design & Test
  • DisplayPort Design and Test
  • Ethernet Design and Test
  • Fibre Channel Design and Test
  • HDMI Design and Test

  • MHL Design & Test
  • PCI Express® Design and Test
  • Serial ATA (SATA) Design & Test
  • Serial Attached SCSI (SAS)
  • USB (2.0/3.0/Wireless) Design and Test
• Радиоизмерения
  • Проектирование ВЧ и СВЧ схем
  • X-параметры
  • Решения для измерения коэффициента шума
  • Проектирование ВЧ цепей
  • Генерация и анализ импульсных сигналов

  • Измерения электромагнитной совместимости
  • Спектральный мониторинг и геолокация
  • Измерение импеданса
  • Проектирование на системном уровне (ESL)
  • ФАПЧ
• Решения для ВУЗов и Уголок преподавателя
  • Фундаментальные исследования
  • Уголок преподавателя

Электронные измерения

• Технические характеристики
• Руководства
• Руководства по применению
• Демонстрационные материалы
• Драйверы, обновления, примеры
• Часто задаваемые вопросы
• Форумы
• Указания по обслуживанию
• Комплектующие
• Услуги калибровки и ремонт приборов

• Технические характеристики
• Руководства
• Руководства по применению
• Брошюры и специальные предложения
• Руководства по выбору продуктов и конфигурации

Электронные измерения

• Введение в Agilent VEE Pro
• Основы ВЧ/СВЧ измерений
• Веб-семинары - online и по запросу
• Календарь тренингов
• Календарь мероприятий
• Список мероприятий по странам
  • Россия
  • 中国
  • 日本
  • 台灣
  • 한국
  • Canada (English)
  • Canada (Français)
  • Deutschland

  • España
  • France
  • India
  • Italia
  • Singapore
  • United Kingdom
  • United States
  • more+

Электронные измерения

• Статус заказа
• Запросить предложение
• Как купить
• Найти партнера