Test et mesure électronique

• Oscilloscopes, Analyseurs et Mètres
  • Oscilloscopes
  • Analyseurs de spectre
  • Network Analyzers
  • Oscilloscopes portables, analyseurs, mètres
  • Analyseurs logiques
  • Testeurs et analyseurs de bus PCI, PCI-X
  • Produits RF et micro-ondes spécialisés
  • Analyseur de taux d'erreur sur bits en parallèle - ParBERT
  • Multimètres/voltmètres numériques

  • Wattmètres et capteurs de puissance
  • Frequency Counter Products
  • Analyseurs de facteur de bruit et sources de bruit
  • Appareils de mesure de LCR et de résistance
  • Digitizers
  • DC Power Analyzers
  • Test physique et mécanique
  • Parameter & Device Analyzers, Curve Tracer
• Générateurs, Sources, et Alimentations Électriques
  • Générateurs de signaux
  • Générateurs de fonctions/formes d'ondes arbitraires
  • Pulse Generator Products
  • Plates-formes de générateur/d'analyseur de données

  • Blocs d'alimentation CC
  • Source Measure Units
  • Charges électroniques CC
  • Sources d'alimentation/analyseurs CA
• Logiciels
  • Agilent EEsof EDA Software
  • Logiciels d'applications pour instruments
  • Logiciel de contrôle d'instruments
  • Logiciel pour 89600 VSA
  • Logiciel d'analyse oscilloscopes InfiniiView
  • Logiciel 2013 pour système de test de couche physique
  • Agilent VEE
  • Logiciel MATLAB
  • Logiciel de gestion d'analyse de puissance

  • Logiciel (IFT) pour test fonctionnel interactif
  • Gestion de test sans fil
  • Logiciel de gestion de mesure paramètrique
  • Centre de forme à large bande
  • Suite d'application photonique
  • Logiciel d'accès à distance FlexDCA
  • Logociels EasyExpert et EasyExpert de bureau
  • Calibration & Adjustment Software
  • Agilent License Manager
• Systèmes modulaires, PXI AXIe et DAQ
  • Solutions et produits PXI
  • Solutions et produits AXIe
  • Acquisition et contrôle des données
  • Numériseurs PCI/PCIe/cPCI/VME
  • Produits et solutions USB
  • Produits et solutions VXI
• Produits Supplémentaires de Test et Mesure
  • Wireless Device Test Sets & Wireless Solutions
  • Systèmes de test in-circuit - 3070 ICT
  • Systèmes de test
  • Test paramétrique
  • Solutions de mesures optiques et photoniques
  • Atomic Force Microscopes, FE-SEM, Nanoindenters, UTM

  • Fréquence, temps, distance, physique
  • Combinateur laser monolithique et d'optiques de précision
  • Millimeter-Wave & Microwave Devices
  • Accessoires, armoires et câbles de T et M
  • Premium Used Equipment
• Services
  • Services de réparation et d’étalonnage
  • Infoline
  • Register your product
  • Check warranty status

  • Agilent Solutions Partners
  • Trade-In Solutions
  • Service d'ingénierie professionnelle
  • Customer Experience & Quality

Electronics

• Principes de base
  • Métrologie
  • Instrument Security
  • Fundamentals
  • Instrument OS & Software
• Aérospatial & Défense
  • Radar Test & Electronic Warfare (EW) Test
  • Military Communications
  • Satellites
  • Signals Intelligence (SIGINT)
  • Avionics, Guidance, Navigation & GPS
  • ATE Applications
  • Operational Test
• Components & specific devices
  • Automotive
  • Fuel Cell Electrical Test
  • Solar Micro Inverter Testing
  • Solar Cells & Modules
  • Amplifiers
  • Batteries

  • Printed Circuit Boards
  • Antennas
  • Device Modeling and Characterization
  • Filters
  • Mixers, Frequency Converters
  • Oscillators
• Controles & automatisation
  • Manufacturing & Production Test
  • Bâtissez votre propre système de test
  • LXI - LAN eXtensions for Instruments
• Conception numerique, conception analogique
  • High-Speed Digital
  • Mémoire DDR
  • Port d'écran
  • Ethernet
  • Fibre Channel
  • HDMI

  • MHL
  • PCI Express®
  • Serial ATA (SATA)
  • Serial Attached SCSI (SAS)
  • USB (2.0/3.0/sans fil)
• Intégration de conception et de qualification
  • Intégration de conception et de qualification pour communication sans fil
  • Intégration de conception et de qualification pour aérospatial/défense
• RF & micro-ondes
  • Design RF et micro-ondes
  • X-parameters
  • Passive Intermodulation (PIM)
  • Noise Figure Measurements
  • Intégration de conception et de qualification
  • Pulsed-RF Measurements

  • EMI & EMC
  • Signal Monitoring, Geolocation
  • Impedance
  • ESL Design
  • Phase-Locked Loops
• Recherche et université
  • Advanced Research
  • Educator's Corner

Test et mesure électronique

• Caractéristiques techniques
• Guides d’utilisation
• Notes d'application
• Démos
• Pilotes, logiciels, micrologiciels
• FAQ
• Forums de discussion
• Notes d’information
• Pièces détachées
• Services de réparation et d’étalonnage

• Caractéristiques techniques
• Guides d’utilisation
• Notes d'application
• Dépliants et révisions compétitives
• Guides de sélection et de configuration

Test et mesure électronique

• Formation débutant Agilent VEE Pro
• Formation sur les bases de la RF et des microondes
• Calendrier des cours
• Webémission/webinaires –  en direct et sur demande
• Calendrier par pays
  • Canada (Français)
  • 中国
  • 日本
  • 台灣
  • 한국
  • Россия
  • Brasil
  • Canada (English)

  • Deutschland
  • France
  • India
  • Malaysia
  • United Kingdom
  • United States
  • suite+

Test et mesure électronique

• Suivre une commande
• Obtenir un devis
• Comment acheter
• Trouver un partenaire
• Voir les offres spéciaux