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88000 HS-100 高速・高感度アレイ・テスト・システム |
- オープン/ショート
- Cs
- ピクセル電荷
- Ion / Ioff
- Vth
- OLEDドライバ・トランジスタ
- シフト・レジスタのキャリーアウト
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2304 (2テスト・ヘッド) |
512 |
10 pC / 40 pC 分解能 2 fC / 8 fC |
2
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16
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• 割り当てられたTACT内の高速フル・アレイ・テスト • 高いテスト感度 • 正確な不良検出 • AM-OLED、SOGなどの新技術にも適応 |
LTPS LCDおよびAM-OLEDのTFTアレイのテスト |
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U8101A ディスプレイ・テスタ |
なし |
なし |
なし |
なし |
なし |
なし |
なし |
なし |