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88000 HS-100 High Speed and Sensitivity Array Test System |
- 开路/短路
- Cs
- 像素电荷
- Ion / Ioff
- Vth
- OLED驱动电路晶体管
- 实现移位寄存器
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2304
(2个测试探头) |
512 |
10pC / 40pC
分辨率
2fC / 8fC |
2
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16
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• 在指定的TACT内进行快速全阵列测试 • 高测试灵敏度 • 准确的缺陷检测 • 采用最新技术,包括AM-OLED、SOG |
测试LTPS LCD和AM-OLED的TFT阵列 |
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U8101A Display Tester |
不适用 |
不适用 |
不适用 |
不适用 |
不适用 |
不适用 |
不适用 |
不适用 |