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パラメトリック・テスト

概要

今日のICデバイスはますます小型化、高密度化が進み、その性能も飛躍的に向上しています。このため、製造およびテストにおいて、歩留まりを維持・向上させるのが困難になっています。アジレントはパラメトリック・テスト・ソルーションにおいて常にこのような課題に対応し、プロセス・モニタリングが容易な様々の高精度の自動テスト・ソルーションをお客様に提供してきました。アジレントのソルーションは、事実上の業界標準として、世界2,900ヶ所以上で使用されています。技術進歩の著しい電子計測の分野で、60年以上にわたって業界をリードしてきたアジレントなら、パラメトリック・テストにおける厳しい要求に対して明確な答えを提示することができます。

パラメータ／デバイス・アナライザに関する情報をお探しの場合は、 Agilentの新しいサイトをご覧ください。

詳細

パラメトリック・テスト・システム
Agilentは、2つの量産向けパラメトリック・テスタ・製品ファミリを提供しています。
41000シリーズ
Agilent 41000シリーズは、研究開発、ラボ、プロセス開発環境における少量のウェハーを評価するための非常に正確なCV-IVパラメトリック測定ソリューションです。
信頼性試験
先進の拡張性に富む統合された信頼性 (ASUR) 製品ファミリーは、さまざまな半導体信頼性試験、測定、および分析を提供します。
パラメトリック・テスト・サービス＆サポート
サービス＆サポートは複雑なパラメトリック・テストを実行するための基本的なコンポーネントです。
パラメトリック・テスト・ソフトウェア
直感的な操作を提供するパラメトリック・テスト・ソフトウェアが、より効率的な測定、解析、テストデータの管理をサポートします。
Parameter & Device Analyzers, Curve Tracers
See our new location for Parameter / Device Analyzers, Modular SMU Series and Low-leakage Switch Matrix Family