參數測試

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整合式電路裝置每年持續在尺寸縮小、密度增加，及性能改進方面演進。在要保持及提高產能變得愈來愈困難的同時，即需製造和測試這些裝置。然而，安捷倫科技的參數測試解決方案繼續迎向這些挑戰，並提供使用者準確一致及高度自動的測試解決方案以有效地監控製程。我們得獎的參數測試系統為實質產業標準，有超過 2900 個系統安裝於全世界各地。安捷倫在「測試與量測」產業方面有超過 60 年的創新及領導歷史，最知道什麼是符合參數測試客戶的迫切需求。

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  • 生產測試系統
    安捷倫有兩種生產參數測試儀系列，Agilent 4070 與 Agilent 4080 系列。
  • Agilent 41000 系列
    Agilent 41000 系列是高度準確的 CV-IV 參數量測解決方案，可用於少量研發、實驗室和製程開發環境中的晶圓特性分析。
  • Reliability Test
    The ASUR (Advanced Scalable Unified Reliability) product family provides a range of semiconductor reliability test structures, measurement and analysis (C1280A, C1281A and C1282A).
  • Parametric Test System Services
    Service and support solutions are essential components in any semiconductor test operation. Explore a full suite of offerings available on Parametric Test Systems.
  • Parametric Test Software
    Intuitive software solutions designed to help you measure, analyze, report, and manage parametric test data.
  • Parameter & Device Analyzers, Curve Tracers
    See our new location for Parameter / Device Analyzers, Modular SMU Series and Low-leakage Switch Matrix Family

 

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