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変調測定
概要
現代の光伝送システムは、その高速性能を保証するために、光電子、電気光学コンポーネントの正確で繰返し性のある特性評価を必要とします。
Agilentは、お客様の発展するニーズに対応する周波数ドメイン測定用の最新式デザインおよびテスト・ソリューションを提供します。
詳細
- 光コンポーネント・アナライザ （LCA）
光コンポーネント・アナライザは、光ファイバ無線アプリケーションはもちろん、10 Gb/sおよび40 Gb/s、Fibre Channel、CATV伝送システムの電気光学部品のS21、S11、S22などの光電子Sパラメータをすべてテストするのに最適な測定器です。 - Electro-optical Converters
Electro-optical converters will be used to modulate or demodulate an optical carrier. - N4371A 相対強度雑音 (RIN) ソリューション
電気スペクトラム・アナライザを使用したレーザの相対強度雑音のスペクトラム・テスト。 - N4391A 光モジュレーション・アナライザ
光モジュレーション・アナライザでは、40/100 G伝送システムの振幅／位相変調光信号の特性を包括的に評価できます。
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