스토리지 영역 네트워크용 광 채널 테스트 솔루션 (173x 시리즈)

애질런트 173x 시리즈 광 채널 테스트 솔루션은 반도체 및 장비 제조업체, 시스템 통합업체 그리고 서비스 공급업체에서 광 채널에 기반을 둔 장비, 시스템 및 인프라를 쉽게 디버깅, 특성 분석, 검증 및 테스트하도록 지원합니다.

기존의 광 채널 테스트 환경에는 네트워크에서 트래픽 정보를 투명하게 모니터링하는 수동 프로토콜 분석기와 함께 모든 패브릭 및 장비 성능을 테스트하는 데 필요한 트래픽 조건을 생성하는 능동 테스트 툴이 포함됩니다. 공통 테스트 환경에서 이기종 테스트 툴과 다양한 API를 통합시키는 문제가 가장 해결하기 어렵습니다.

애질런트의 확장 가능한 모듈식 테스트 솔루션에는 광 채널 프로토콜 분석, 트래픽 발생 및 패브릭 성능 측정이 하나의 공통된 다기능 멀티유저 N2X 섀시에 결합되어 있어 다수의 어플리케이션과 분석 툴로 이루어진 여러분의 시스템을 한 눈에 파악할 수 있습니다.

SAN 테스터 소프트웨어 어플리케이션

SAN 테스터 GUI 스크린 샷

SAN 테스터 소프트웨어 어플리케이션을 이용하여 구성 가능한 트래픽으로 광 채널 설계를 자극하고 처리속도, 대기 시간, 소실된 프레임 및 오류와 같은 여러 가지 실시간 측정을 통해 성능과 확장성 특성을 분석하도록 테스트 모듈을 쉽게 구성할 수 있습니다. SAN 테스터 어플리케이션은 광 채널 반도체, 스위치, 도파기 및 패브릭을 테스트하는데 사용할 수 있습니다.

각 테스트 포트는 다른 장치와 와이어 속도 트래픽을 주고받는 하나 또는 다수의 광 채널 장치로 구성할 수 있습니다. 포트-포트, 부분적 그물형, 전체 그물형 구성을 만들어 실제적인 또는 극한의 트래픽 조건에서 장치를 테스트할 수 있습니다.

이를 통해 와이어 속도 광 채널 트래픽 생성을 포괄적 파라미터로 제어하고 SAN 시스템의 성능, 견고성, 신뢰성을 실시간으로 연속 모니터링할 수 있습니다. 애질런트 플랫폼의 확장성 덕분에 개별 장치에서 대규모 SAN 인프라까지 폭 넓게 테스트할 수 있습니다.

프로토콜 분석 소프트웨어 어플리케이션

프로토콜 분석 소프트웨어 어플리케이션을 이용하면 여러 광 채널 장치 사이의 트래픽을 기록하고 적합한 디코딩 기능을 통해 이를 쉽게 표시함으로써 포착하기 어려운 문제의 근본 원인을 신속하게 찾아낼 수 있습니다. 각 분석기는 대용량 트레이스와 직관적인 고차원적 다중 레벨, 다중 분기 트리거링과 필터링 순서기를 결합시켜 관련 정보를 포착할 수 있습니다. 모든 분석기 모듈 사이에 시간 상관이 제공되어 다중 포트, 시스템 레벨 측정이 가능합니다.