Agilent 4080 系列參數測試系統
摘要
在執行現有及新的晶圓的先進製程時,面臨了愈來愈多的參數測試挑戰。基於必要,參數測試已擴大超過了純直流量測,現在涵蓋多種不同量測類型,包括平行測試、快閃單元寫入/清除測試,以及 RF S參數特性分析。而安捷倫預測到這些需求,開發了多用途的彈性 Agilent 4080 參數測試平台。
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新一代測試平台,具備了超快的 CPU,可大大地提升效能
最新設計的 Agilent 4080 平台整合了更強大的 CPU 和其他的架構改進,可將轉移的 Agilent 4070 計畫產出,提升 10% 到 20%,而不需修改任何程式。這可縮短測試時間,並為您省錢。 -
虛擬多重測試頭技術,可大幅提升輸出
所有執行 SPECS 的 Agileint 4080 系列測試器,可利用安捷倫的虛擬多重測試頭技術,同時支援同步與非同步平行測試。利用此項技術,再搭配適當的測試元件組 (TEG) 設計,就可比傳統序列技術提升 50% 的輸出。 -
彈性的配置,可將成本減到最低
Agilent 4080 系列測試儀有 2 種版本:標準低電流與超低電流,可讓您針對所購買的每部 Agilent 4080 系列測試儀,選擇最具成本效益的配置。 -
高速的電容量測,可縮短測試時間
Agilent 4080 系列的測試儀,全都支援選用的高速電容量測組件 (HS-CMU),這個組件整合於測試頭電子產品中。 -
HV-SPGU 可支援新一代快閃記憶體單元製程的測試
Agilent 4082F 和 4083A 皆支援半導體脈衝產生器單元 (SPGU) 主機,以及高速 SPGU (HV-SPGU) 模組,可進行先進的快閃記憶體單元技術測試。 -
RF S 參數量測及選配的 RF 矩陣,可有效地進行生產中 RF 架構的測試
Agilent 4083A 可支援 Agilent PNA,進行 20 GHz S 參數量測。此外,也提供 20 GHz 頻寬的 8x10 RF 矩陣選項,以測試單次量測高達 5 RF 的測試架構。 -
一致的硬體平台,可保護您的投資
Agilent 4080 系列的所有成員皆共用相同的硬體,而且從一個機型升級到另一個機型也很容易。這可保護您的投資,並確保您的設備不會變得過時。 -
符合 SEMI 標準,方便進行自動化測試
Agilent 4080 系列測試儀的所有機型,皆可執行安捷倫 SPECS 測試 shell 的工廠自動版 SPECS-FA。SPECS-FA 完全支援 SEMI 自動化標準 E5 (SECS II)、E30 (GEM)、E87 (CMS)、 E39 (OSS)、E40 (PMS)、E90 (STS) 及 E94 (CJM)。 -
Linux OS 可提升支援能力,並降低成本
Agilent 4080 系列系統軟體,以及 Agilent SPECS 和 SPECS-FA 測試 shell,皆使用 Linux 作業系統。透過使用更便宜且更易維護的 Linux 系統硬體,可為您節省金錢。
| 特性 | |||
|---|---|---|---|
| 4082A | 4082F | 4083A | |
| 高速電容量測 | X | X | X |
| 非同步與同步平行測試功能 | X | X | X |
| 高頻矩陣/脈衝切換選項 | X | X | X |
| 完全符合 SEMI 工廠自動化標準 | X | X | X |
| 支援低成本的 Linux 工作站 | X | X | X |
| 高壓半導體脈衝產生器單元 | X | X | |
| RF S 參數量測 | X | ||
| RF 切換矩陣選項 | X |
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4082F Flash Memory Cell Parametric Test System
4082F Flash Memory Cell Parametric Test System
In addition to the parametric test capabilities of the 4082A, the Agilent 4082F supports high-voltage semiconductor pulse generator units (HV-SPGUs) for Flash memory cell testing.
