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Agilent 4080 系列參數測試系統

摘要

在執行現有及新的晶圓的先進製程時,面臨了愈來愈多的參數測試挑戰。基於必要,參數測試已擴大超過了純直流量測,現在涵蓋多種不同量測類型,包括平行測試、快閃單元寫入/清除測試,以及 RF S參數特性分析。而安捷倫預測到這些需求,開發了多用途的彈性 Agilent 4080 參數測試平台。

  • 新一代測試平台,具備了超快的 CPU,可大大地提升效能
    最新設計的 Agilent 4080 平台整合了更強大的 CPU 和其他的架構改進,可將轉移的 Agilent 4070 計畫產出,提升 10% 到 20%,而不需修改任何程式。這可縮短測試時間,並為您省錢。
  • 虛擬多重測試頭技術,可大幅提升輸出
    所有執行 SPECS 的 Agileint 4080 系列測試器,可利用安捷倫的虛擬多重測試頭技術,同時支援同步與非同步平行測試。利用此項技術,再搭配適當的測試元件組 (TEG) 設計,就可比傳統序列技術提升 50% 的輸出。
  • 彈性的配置,可將成本減到最低
    Agilent 4080 系列測試儀有 2 種版本:標準低電流與超低電流,可讓您針對所購買的每部 Agilent 4080 系列測試儀,選擇最具成本效益的配置。
  • 高速的電容量測,可縮短測試時間
    Agilent 4080 系列的測試儀,全都支援選用的高速電容量測組件 (HS-CMU),這個組件整合於測試頭電子產品中。
  • HV-SPGU 可支援新一代快閃記憶體單元製程的測試
    Agilent 4082F 和 4083A 皆支援半導體脈衝產生器單元 (SPGU) 主機,以及高速 SPGU (HV-SPGU) 模組,可進行先進的快閃記憶體單元技術測試。
  • RF S 參數量測及選配的 RF 矩陣,可有效地進行生產中 RF 架構的測試
    Agilent 4083A 可支援 Agilent PNA,進行 20 GHz S 參數量測。此外,也提供 20 GHz 頻寬的 8x10 RF 矩陣選項,以測試單次量測高達 5 RF 的測試架構。
  • 一致的硬體平台,可保護您的投資
    Agilent 4080 系列的所有成員皆共用相同的硬體,而且從一個機型升級到另一個機型也很容易。這可保護您的投資,並確保您的設備不會變得過時。
  • 符合 SEMI 標準,方便進行自動化測試
    Agilent 4080 系列測試儀的所有機型,皆可執行安捷倫 SPECS 測試 shell 的工廠自動版 SPECS-FA。SPECS-FA 完全支援 SEMI 自動化標準 E5 (SECS II)、E30 (GEM)、E87 (CMS)、 E39 (OSS)、E40 (PMS)、E90 (STS) 及 E94 (CJM)。
  • Linux OS 可提升支援能力,並降低成本
    Agilent 4080 系列系統軟體,以及 Agilent SPECS 和 SPECS-FA 測試 shell,皆使用 Linux 作業系統。透過使用更便宜且更易維護的 Linux 系統硬體,可為您節省金錢。
特性      
    4082A   4082F   4083A
高速電容量測 X X X
非同步與同步平行測試功能 X X X
高頻矩陣/脈衝切換選項 X X X
完全符合 SEMI 工廠自動化標準 X X X
支援低成本的 Linux 工作站 X X X
高壓半導體脈衝產生器單元   X X
RF S 參數量測     X
RF 切換矩陣選項     X
  • 4082A 參數測試系統 4082A 參數測試系統 

    4082A 參數測試系統

    Agilent 4082A 是高產出的生產參數測試系統,具備了先進的平行測試功能、高速電容 量測選項,以及 SEMI 工廠自動化標準的完整支援。

  • 4082F Flash Memory Cell Parametric Test System 4082F Flash Memory Cell Parametric Test System 

    4082F Flash Memory Cell Parametric Test System

    In addition to the parametric test capabilities of the 4082A, the Agilent 4082F supports high-voltage semiconductor pulse generator units (HV-SPGUs) for Flash memory cell testing.