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概要
業界のジレンマ: 革新はより高いリスクを伴う
ナノメートル・スケールのテクノロジーと新しい材料の開発は、その試験が課題であることにスポットライトを当てました。
テクノロジー・レポートおよびロードマップからアナリストのレポートに至るまで、半導体業界に与える試験のインパクトは、とくに 300 mm 時代以降、甚大であると訴えています。それは、信頼性データが新しい材料選択に不可欠であるからです。それゆえ、近代製造では、拡張性に富むコスト効率に優れたパラメトリック試験および信頼性試験が極めて重要になっています。
1 つのハードウェア・ファミリ、1 つのソフトウェア・ファミリで測定器からシステムまで
ASUR は拡張性に富むソリューションです。そのデータは、測定器からシステムへ、さらにパッケージ化されたテスタへ相関を保つことができます。ASUR は、集積デバイス・メーカ (IDM)、半導体ファウンダリ、ファブレス会社および装置会社において、その製造工程の成熟を支援しながら開発サイクルの短縮に貢献します。IC のライフ・サイクルを通して、開発、認定、製造、信頼性検証にわたるあらゆるフェーズにおいて有用です。
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