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顯微術、定位及光學儀器

使用模組化的原子力顯微鏡 (AFM) 系統，達到出色的流體與柔軟樣品成像。使用雷射干涉儀位置量測系統，執行極精確的尺寸量測或移動控制。或是在您需要精確的光學元件與組件時致電安捷倫 - 根據您確切的規格量身打造，並以幾乎可比擬大批生產的產量提供。

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    雷射干涉儀定位系統

    安捷倫科技的干涉儀定位系統可提供無與倫比的準確度和解析度，合乎所有精確定位的嚴格需求，而且還有各式各樣的系統構件可供選擇。

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