参数测试
描述
集成的电路设备每年都在不断地缩小尺寸、增加密度和提高性能。因此，制造和测试这些设备的同时，维持和提高产量变得十分困难。然而，安捷伦科技公司的参数测试解决方案将继续满足这些需求，并为用户提供始终如一的精度和高度自动化测试解决方案，以更好的进行过程监测。我们屡获殊荣的参数测试系统是业界广泛认可的实际标准，2900多个系统已经安装到世界各地。凭借在测试和测量行业60多年的创新和领导能力，安捷伦知道如何满足参数测试客户的苛刻要求。
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更多信息
- 产品测试系统
安捷伦拥有两大系列的产品参数测试仪：4070系列和4080系列。 - 41000 Series
The Agilent 41000 Series is a highly accurate CV-IV parametric measurement solution for the characterization of wafers in low-volume R&D, laboratory and process development environments. - Reliability Test
The ASUR (Advanced Scalable Unified Reliability) product family provides a range of semiconductor reliability test structures, measurement and analysis (C1280A, C1281A and C1282A). - Parametric Test System Services
Service and support solutions are essential components in any semiconductor test operation. Explore a full suite of offerings available on Parametric Test Systems. - Parametric Test Software
Intuitive software solutions designed to help you measure, analyze, report, and manage parametric test data. - 参数分析仪与器件分析仪、曲线追踪仪
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已停产/废型
Discontinued and Obsolete Parametric Test Equipment
4140B, 4142B, 4145A/B, 4155A, 4156A, 41501A, 4155B, 4156B, 4157A, 4157B,4280A, E5270A, E5272A, and E5273A
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