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* Agilent 電子計測 イベント/セミナ/トレーニング・カレンダー
アジレント 電子計測 イベント/セミナ/トレーニング・カレンダー
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セミナー
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* Agilent 電子計測 教育サービス一覧
電子計測分野のトレーニングコース全一覧をご覧いただけます。
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トレーニング
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4155C/4156C フロントパネル・オペレーション
4155C/4156C半導体パラメータ・アナライザのフロントパネルからの操作方法について説明致します。
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トレーニング
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B1500Aの測定基礎
B1500A半導体デバイス・アナライザのハードウェアを構成する各ユニットの説明に始まり、内蔵のソフトウェア（EasyEXPERT）の使用方法を、効率よく習得するためのコースです。
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トレーニング
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On Wafer RF S パラメータ測定基礎
Sパラメータから種々のRFパラメータを抽出するための基礎的な知識、ノウハウについて説明致します。
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トレーニング
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SPECSテストシェルの基礎
SPECSテストシェルの基礎知識と、SPECSによる4070/4080テストシステムの運用方法を説明致します。
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トレーニング
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テスタユーザのためのBASICプログラミング
パラメトリックテストシステムを使用する上で必要なBASICプログラミングの知識を、効率よく習得するためのコースです。
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トレーニング
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テスタユーザのためのC言語プログラミング
パラメトリックテストシステムを使用する上で必要なC言語プログラミングの知識を、効率よく習得するためのコースです。
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トレーニング
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デスクトップEasyEXPERTの測定基礎
デスクトップEasyEXPERTソフトウェアで4155C/4156Cをコントロールする場合の基本的な操作方法を効率よく習得するためのコースです。
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トレーニング
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パラメトリックテストシステムPGUオペレーション
半導体パラメトリックテスタ 4070シリーズ、4080シリーズにおける、パルスジェネレータを用いた測定に関する機能と、その使用方法について説明致します。
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トレーニング
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パラメトリックテストシステムの基礎
4070シリーズ、4080シリーズに共通な基本測定機能、プログラミング、システム運用方法について説明致します。
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トレーニング
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半導体パラメータ測定の基礎
4155C/4156C、E5270B、B1500Aなどの半導体パラメータ＆デバイス・アナライザ、E4980AなどのLCRメータのユーザ向けに、測定原理を基本から、わかりやすく解説するコースです。
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トレーニング
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Process Reliability Measurement in the 21st Century Webcast
Originally broadcast April 3,2007
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ウェブセミナ（録画）
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Solve Ultra-fast Measurement Challenges with Agilent’s New WGFMU Module
Originally broadcast Sept 30, 2008
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ウェブセミナ（録画）
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SPECS User Training
Learn to quickly develop and run SPECS test plans to obtain semiconductor parametric information.
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トレーニング
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