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参数测试

集成的电路设备每年都在不断地缩小尺寸、增加密度和提高性能。因此，制造和测试这些设备的同时，维持和提高产量变得十分困难。然而，安捷伦科技公司的参数测试解决方案将继续满足这些需求，并为用户提供始终如一的精度和高度自动化测试解决方案，以更好的进行过程监测。我们屡获殊荣的参数测试系统是业界广泛认可的实际标准，2900多个系统已经安装到世界各地。凭借在测试和测量行业60多年的创新和领导能力，安捷伦知道如何满足参数测试客户的苛刻要求。

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    Service and support solutions are essential components in any semiconductor test operation. Explore a full suite of offerings available on Parametric Test Systems.

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    Intuitive software solutions designed to help you measure, analyze, report, and manage parametric test data.

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    88000 HS-100 High Speed and Sensitivity Array Test System

    Provides full thin film transistor (TFT) array testing for LTPS LCD and AM-OLED manufacturers.

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已停产和废型的参数测试设备 [已停产]
4155C, 4156C, 41000 Series, N9201A, 4070 Series, 4140B, 4142B, 4145A/B, 4155A, 4156A, 41501A, 4155B, 4156B, 4157A, 4157B,4280A, E5270A, E5272A, and E5273A

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