パラメトリック・テスト
今日のICデバイスはますます小型化、高密度化が進み、その性能も飛躍的に向上しています。このため、製造およびテストにおいて、歩留まりを維持・向上させるのが困難になっています。アジレントはパラメトリック・テスト・ソルーションにおいて常にこのような課題に対応し、プロセス・モニタリングが容易な様々の高精度の自動テスト・ソルーションをお客様に提供してきました。アジレントのソルーションは、事実上の業界標準として、世界3,700ヶ所以上で使用されています。技術進歩の著しい電子計測の分野で、60年以上にわたって業界をリードしてきたアジレントなら、パラメトリック・テストにおける厳しい要求に対して明確な答えを提示することができます。
パラメータ／デバイス・アナライザに関する情報をお探しの場合は、 Agilentの新しいサイトをご覧ください。
-
パラメータ／デバイス・アナライザ、カーブトレーサ
パラメータ／デバイス・アナライザ、カーブトレーサ
これらの製品とモジュラ・ソース・モニタ・ユニット・シリーズ、及び低リーク・スイッチ・メインフレーム・ファミリについては、新しいページに移動しました。
myAgilent に登録
製品登録
エンジニアリング・サービス