インサーキット・テスト・システム：3070 ICT

Agilentは、エレクトロニクス・メーカが今日の複雑なプリント基板アセンブリのさまざまなPCBAテスト・アクセスやカバレージの問題に対処するために適した、最高のボード・テスト・ソリューションを提供しています。

現在市販されている中で最高のROICの1つを搭載したi3070/i1000D ICTシステムを使用することにより、インサーキット・テストのボード・テスト・カバレージとテスト・スループットの両方が向上します。

インサーキット・テスト > Medalist i3070

インサーキット・テスト > Medalist i3070

Agilent Medalist i3070は、テスト・カバレージと信頼性に優れ、高い投資効果を実現する次世代のインサーキット・テスト・システム (ICT) です。

製品シリーズ概要
再生品の3070/i3070 ICT

再生品の3070/i3070 ICT

再生品およびお持ちのHP 3070やAgilent 3070/i3070 ICTシステムなど、代わりになるAgilentインサーキット・テスト・オプションをご検討になりませんか？

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インサーキット・テスト > Medalist i1000

インサーキット・テスト > Medalist i1000

Agilent Medalist i1000インサーキット・テスト（ICT）システムは、低価格のインサーキット・テスト・ソリューションです。低価格フィクスチャ・ソリューションを維持しつつ、デジタル・テスト機能を新たに備えました。

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ユーティリティ・カード：LEDテスト・アプリケーション

ユーティリティ・カード：LEDテスト・アプリケーション

ユーティリティ・カードによる、オンボードLEDの色と輝度の検査

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ユーティリティ・カード・フラッシュ・プログラミング・アプリケーション

ユーティリティ・カード・フラッシュ・プログラミング・アプリケーション

ユーティリティ・カードをカスタム回路にプラグインするだけで、ファンクション・テストや機能をICT中に追加することができます。i3070 Series 5ユーティリティ・カードを使用すると、高性能なインシステム・フラッシュ・プログラミング（ISP）をご利用になれます。

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製品一覧
ユーティリティ・カード：バウンダリ・スキャン・アプリケーション

ユーティリティ・カード：バウンダリ・スキャン・アプリケーション

この新機能を使用すれば、研究開発およびNPIステージで開発されたバウンダリ・スキャン・ソリューションを、製造環境で利用できます。

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制限付きアクセステストに対する製品群Super 7スイート

制限付きアクセステストに対する製品群Super 7スイート

さまざまな制限付きアクセステストにより、高密度回路デザインに起因するテストの問題を解決できます。

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3070AF ICT i3070の付属品：フィクスチャ

3070AF ICT i3070の付属品：フィクスチャ

フィクスチャ・キットからVTEPなどのベクタレス・テスト製品まで、ICT i3070フィクスチャの付属品を表示します。製品や部品を簡単に選択して、クイック見積もりを簡単に請求できます。

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N1125A X1149バウンダリ・スキャン・アナライザ：4 TAP、22.5 MHz
N1125A X1149バウンダリ・スキャン・アナライザ：4 TAP、22.5 MHz

4 TAP、22.5 MHz

Cover-Extendテクノロジー：非スキャン・コンポーネントの高速なテスト・カバレージ

インシステム・プログラミング

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アップタイム・サポートおよびサービス

アップタイム・サポートおよびサービス

現地での専門的なアップタイム・サポートおよびエンドツーエンド・サービスにより、実環境の製造課題に対処できます。

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