전문가 상담

파라메트릭 테스트

집적 회로 디바이스는 한 해가 다르게 계속해서 크기가 작아지고 밀도는 높아지며 성능이 향상되고 있습니다. 이에 따라 생산 속도를 유지 및 개선시키면서 이러한 디바이스를 제조하고 테스트하기가 점차 어려워지고 있습니다. 그러나 애질런트는 파라메트릭 테스트 솔루션을 통해 이러한 문제를 지속적으로 해결하고 사용자에게 공정을 보다 효과적으로 감시하는 더욱 정확한 자동화 테스트 솔루션을 제공하고 있습니다. 수상 경력에 빛나는 애질런트의 파라메트릭 테스트 시스템은 전세계적으로 3,700개의 시스템이 설치되어 사실상의 업계 표준으로 자리 잡았습니다. 테스트 및 측정 산업에서 60년 이상 혁신과 리더십을 이어온 애질런트는 파라메트릭 테스트 고객의 까다로운 요구를 충족시키기 위해 무엇이 필요한지 잘 알고 있습니다.

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  • 4080 Series of Parametric Test Systems 4080 Series of Parametric Test Systems 

    4080 Series of Parametric Test Systems

    Solves both current and next-generation parametric test challenges with features such as a faster architecture, parallel test capabilities, support for high-voltage semiconductor pulse generator units, and an optional 8x10 RF matrix.

  • Parametric Test Software Parametric Test Software 

    Parametric Test Software

    Intuitive software solutions designed to help you measure, analyze, report, and manage parametric test data.

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  • 88000 HS-100 High Speed and Sensitivity Array Test System 88000 HS-100 High Speed and Sensitivity Array Test System 

    88000 HS-100 High Speed and Sensitivity Array Test System

    Provides full thin film transistor (TFT) array testing for LTPS LCD and AM-OLED manufacturers.

Discontinued and Obsolete Parametric Test Equipment [단종됨]
4155C, 4156C, 41000 Series, N9201A, 4070 Series, 4140B, 4142B, 4145A/B, 4155A, 4156A, 41501A, 4155B, 4156B, 4157A, 4157B,4280A, E5270A, E5272A, and E5273A